20秒內獲得高準確度的結果（例如：低合金鋼）

定期維護的工作量（火花臺清洗）減少8倍

元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍，元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍

儀器的占地面積減少27%

單一標樣實現整個系統的標準化, 此項每天可節省30分鐘工作時間

作為電弧/火花創新技術的先行者，40多年來，斯派克全心投入開發出世界優選的發射光譜儀。今天，斯派克公司引入CMOS探測器技術，徹底改變了高端電弧/火花分析技術的走向及未來。在所有同類分析儀中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，元素檢測限低至極限，同時她也可以提供超長的正常運行時間和非常具有前瞻性的靈活性。 

SPECTROLAB S 基于CMOS的探測器的記錄系統，該系統非常適合于高端金屬分析。從微量元素到多基體應用，它提供了非?？焖?、高度準確、異常靈活的技術選擇。

樣品的分析速度是儀器先進性的重要標志，斯派克光譜儀LAB S的推出完全滿足了金屬分析市場對速度的需求。例如：當檢測低合金鋼時，它可以在20秒或更短的時間內提供高準確度的測量值！

從技術指標和實際使用效果看，SPECTROLAB S均是目前金屬冶煉廠首選的、高性能的光譜儀。對于金屬再加工生產商、汽車和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產品、半導體等制造商來說，它的解決方案同樣出色。